減反射膜反射比智能測(cè)試儀特點(diǎn)
- 減反射膜反射比智能測(cè)試儀是具有良好結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和精密的雙光束光學(xué)系統(tǒng)的儀器，可以測(cè)試的材料有：具光學(xué)性能的分子材料制成的眼鏡片，太陽鏡，駕駛用鏡，偏光鏡等滿足GB-10810.3-2006測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
- 關(guān)鍵部件均選用進(jìn)口器件，濱松無臭氧環(huán)保型氘燈，德國歐士朗鎢燈，美國派來茲?rùn)z測(cè)器。保證了儀器性能的高可靠性。
- 具有開放式的樣品室設(shè)計(jì)，反射樣品架、固體樣品架、于光學(xué)鍍膜高反和低反檢測(cè)、帶通濾光片以及眼鏡片鍍膜曲線測(cè)試。
- 掃描曲線可以和TFC膜系設(shè)計(jì)軟件對(duì)接，以便鍍膜時(shí)及時(shí)調(diào)整參數(shù)。
主要技術(shù)指標(biāo)
| ★★光路結(jié)構(gòu) | CT型 單色器焦距250mm |
| 顯示方式： | 6英寸 320×240 點(diǎn)陣帶背光數(shù)字 LCD |
| ★★光源燈： | 預(yù)調(diào)日本濱松無臭氧環(huán)保型氘燈 歐司朗長(zhǎng)壽命鹵鎢燈 |
| 測(cè)光方式 | 透過率，吸光度，能量，反射率 |
| 光譜帶寬 | 2nm |
| 波長(zhǎng)范圍 | 190nm～1100nm |
| 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度 | ≤±0.3nm |
| 波長(zhǎng)重復(fù)性 | ≤0.1nm |
| ★光度范圍 | 0-999.9%(t),-4A～4A，0-9999C，1-9999F |
| 光度準(zhǔn)確度 | ≤±0.3%(t) (0～100%t) ≤±0.002A(0～0.5A) ≤±0.004A(0.5～1A) |
| 光度重復(fù)性 | ≤0.15%(t) (0-100%t) ≤0.001A(0～0.5A) ≤0.002A(0.5～1A) |
| 雜光 | ≤0.03%(t) （220nm NaI，360nm NaNO2）） |
| ★穩(wěn)定性 | ≤±0.0004A/h（500nm，開機(jī)預(yù)熱30min） |
| 噪聲 | ≤±0.0003A |
| ★基線平直度 | ≤±0.001A（190～1100nm） |
| ★★導(dǎo)數(shù)分辨率 | >0.5 |
| 掃描速度 | 快 中 慢 |
| ★★電源電壓 | 100V～240V范圍內(nèi)都可以使用 50/60±1Hz |
| 儀器尺寸
| 650×450×220（mm） |
●光譜測(cè)量
峰谷檢測(cè) 掃描參數(shù)設(shè)定 掃描圖譜
以下為客戶樣品實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)：
用戶樣品鏡片反射曲線
導(dǎo)出數(shù)據(jù)： 另存為文本格式：
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